이 논문은 단일 이미지에서 메트릭 깊이와 표면 법선을 동시에 추정할 수 있는 강력하고 일반화된 기하학적 기반 모델인 Metric3D v2를 소개한다.
메트릭 깊이 추정과 표면 법선 추정은 각각 고유한 과제를 가지고 있다. 메트릭 깊이 추정의 경우 다양한 카메라 모델과 대규모 데이터 학습을 통해 메트릭 모호성을 해결하는 것이 핵심이다. 이를 위해 저자들은 정규화된 카메라 공간 변환 모듈을 제안한다. 표면 법선 추정의 경우 대규모 레이블 데이터 부족이 문제이다. 저자들은 메트릭 깊이 추정기에서 얻은 지식을 활용하여 표면 법선을 학습하는 joint depth-normal 최적화 모듈을 제안한다.
제안 방법은 16개의 깊이 및 법선 벤치마크에서 최신 성능을 달성하며, 다양한 응용 분야에서 활용될 수 있다. 예를 들어 단일 이미지 메트릭 3D 복원, 모노 SLAM의 스케일 드리프트 해결 등이 가능하다.
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by Mu Hu,Wei Yi... klokken arxiv.org 04-25-2024
https://arxiv.org/pdf/2404.15506.pdfDypere Spørsmål